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可见光TO自动上下料测试机

可见光TO自动上下料测试机

TOCAN自动化测试系统主要应用于TO的LIV、光谱、发散角自动测试，支持任意引脚封装的TO56/TO9，设备支持TO自动上料、自动下料，可兼容客户使用的上下料载具，测试工作台支持温度控制，可实现TO在设定温度下测试；系统全自动运行，稳定高效，方便客户批量测试。与大功率TO抽屉老化系统配套使用，是一套完整的大功率TO可靠性实验方案，TOCAN测试系统支持老化前后测试和对比，数据存储与分析。

单模光衰减器

单模光衰减器

PSS DOA24041/14081是一款可程控的四/八通道单模数字光衰减器设备，具有低插入损耗，高衰减精度和重复性等特点；另外光进光出端集成有高精度光功率计，可实时检测输入输出光功率；通信接口除了RS232还可以支持LAN或GPIB接口。设备可用于400G/800G等高速光模块的4/8路并行测试，以及光纤通信、光纤CATV等领域的各种集成测试，满足客户不同应用需求。

数据通信单工位Bar 条测试

数据通信单工位Bar 条测试

k8com官网EML BAR条自动测试机用于LD巴条LIV曲线，光谱，背光自动测量,EA加电测试,SOA加电测试。全自动上下料，支持多种规格料盒上料，支持多种规格料盒或蓝膜下料。常温、高温双温测试，高温测试温度可由用户自定。向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

数据通信双工位Bar 条测试

数据通信双工位Bar 条测试

k8com官网双工位常高温BAR条自动测试机(PSS BAR-HT2201)用于DFB/EML等类型巴条常高温测试，可支持LIV、光谱、发散角、偏振等光电特性测试。全自动上下料，非黏性料盒上料，Disco蓝膜环下料。双测试系统双载台，温度可由用户自定：20~90℃。向用户开放测量数据，用于后续筛分工序。数据通信双工位Bar 条测试机，功能齐全，兼容性强。

可见光 Bar 条测试

可见光 Bar 条测试

可见光BAR条自动测试机用于巴条LIV曲线，光谱，远场自动测量。全自动上下料，支持料盒上料，支持料盒或蓝膜下料。常温、高温双温测试，测试温度可由用户自定。探针加电，测试NG chip采取打点标记，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

数据通信双工位Chip测试

数据通信双工位Chip测试

本设备应用于光芯片LD-CHIP高温/常温LIV测试、SMSR测试及背光抽测并对不同测试结果进行归类分档筛选。芯片wafer蓝膜上料，CHIP-ID自动识别记忆匹配测试，顺利获得蓝膜顶针剥离组织，吸嘴吸取，机械手分别搬运到高温及常温测试区域，自动摆位，自动测试，分析筛选，机械手搬运分档归类。此设备具有高速、高精度特点，实现了复杂时序、严密逻辑的工艺过程。设备采用了偏心凸轮驱动、连杆及精密夹具等组织，配合多轴运动、视觉定位、视觉字符匹配等技术，具有批量生产能力。

可见光 Chip测试

可见光 Chip测试

本设备应用于可见光CHIP常温PIV测试、光谱测试并对不同测试结果进行归类分档筛选。芯片蓝膜上料，自动寻料、识别定位，顺利获得蓝膜顶针剥离芯片、吸嘴吸取、机械手完成搬运，视觉识别并校准位置、自动加电收集发光参数、测试PIV/光谱、分析筛选、机械手搬运分档到不同蓝膜档位。此设备具有高速、高精度特点，实现了复杂时序、严密逻辑的工艺过程。设备采用了直线电机、高精度模组运动、凸轮等组织，配合多轴运动、视觉定位、ORC识别等技术，具有批量生产能力。

10ns Lidar芯片可靠性系统

10ns Lidar芯片可靠性系统

k8com官网窄脉冲集成式可靠性系统用于激光雷达10ns窄脉冲可靠性测试。每个老化板可独独立设定老化电流电压参数，老化箱带自锁功能，防止老化过程中误操作，老化板实时温度检测，支持本地Access保存或SQL服务器保存数据。

100ns TO脉冲老化系统

100ns TO脉冲老化系统

k8com官网大功率窄脉冲抽屉式老化系统主要用于Lidar 激光器在一定温度条件下进行脉冲加电老化，不同的老化抽屉可满足不同封装的Lidar 激光器的老化需求，一个老化系统最多可装载40个老化抽屉，每个抽屉相当于一个独立的实验计划，其老化温控和加电可独立控制；系统集成老化上位机软件，可在老化过程中监控老化电流、电压数据，方便用户可靠性分析。

APD集成式老化系统

APD集成式老化系统

APD集成式老化系统用于光通信行业的APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA 等TO器件可靠性评估和老化筛选，最多支持3072pcs的单次老化。该系统可以给予2mA的恒流、5V的恒压以及175℃高温老化条件，同时对器件的VBR、TIA电流进行实时监控，并自动进行产品失效判断。实时储存监控数据，支持对老化失效器件追溯，能够有效的提升TO生产的效率和可靠性，可以极大的提高器件测试的产量和质量。

RGB COB模组老化系统

RGB COB模组老化系统

k8com官网COB老化系统主要应用于可见光COB模组的老化筛选和寿命验证的系统，配置16个独立的老化抽屉单元，每个抽屉设置独立的水冷控制模块，可支持256PCS激光模组老化。系统采用定制的加电夹具，可支持不同封装COB激光器的老化。

50GBaud 采样示波器

50GBaud 采样示波器

DCA50021光采样示波器用于发射机性能指标测试，支持单路或4路光输入，支持NRZ和PAM4信号测试，光通道带宽30GHz配备多种典型滤波器，电通道带宽高达50GHz。采用最佳垂直分辨率、高采样率ADC实现陆续在等效采样技术，结合自研算法完成眼图重构，优异的电路设计保证系统噪声低至3uw以下，搭配经过校准的参考接收机（符合行业容限标准），完美满足业内精确测试数字波形的需求。高精度、低噪声、低成本，快速采样示波器为客户给予光电性能测试一站式解决方案。

SM11081台式源表

SM11081台式源表

PSS SM11081是一款8通道独立的高性能精密源表，能够同时输出和测量电压电流，最大支持±10V，±500mA直流/脉冲输出，最小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集，支持PXIe Trigger及前面板DIO同步触发，提高了系统测试效率并降低成本。

COB测试机

k8com官网PSS COBT2001系列自动测试系统，适用于VCSEL多模封装光学耦合前后的模块测试需求。设备不仅验证COB模块本身的功能和光学部分的可靠性，还用于VCSEL光芯片的可靠性验证测试。独有的收光装置可覆盖不同功率的测试对象，亦可保证功率测试重复性，支持VCC、ICC、PO、ITH、SE等相关参数测试，设备具备一致性好，高可靠性，高效生产等特点，兼容PSS老化板，其他品牌老化板，支持双板4工位并行测试，一站式完成SFP、QSFP、QSFP-DD、OSFP等封装的测试。

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