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100GBaud 采样示波器
DCA100G光采样示波器用于发射机性能指标测试,支持单路或4路光输入,支持NRZ和PAM4信号测试,光通道带宽60GHz配备多种典型滤波器。 采用最佳垂直分辨率、高采样率ADC实现陆续在等效采样技术,结合自研算法完成眼图重构,优异的电路设计保证系统噪声低至10uw以下,搭配经过校准的参考接收机(符合行业容限标准),完美满足业内精确测试数字波形的需求。 高精度、低噪声、低成本,快速采样示波器为客户给予光电性能测试一站式解决方案。
ELSFP温控平台
ELSFP模块温控平台是一款针对于ELSFP光源模块进行三温测试的设备,设备内采用MCB板形式,内置TEC+水冷控温,可支持模块DDM温度0-70℃测试,产品即插即用,快速实现研发、生产测试。
1.6T高速误码仪
PSS BERT1B882是一款针对于多通道PAM4和NRZ应用的高速信号误码性能分析仪,单通道信号速率达到106.25Gbd,主要用于1.6T/800G模块的研发、测试等测试场景。 设备采用双通道模组化形式设计,多芯高速连接器形式,实现电信号传输,可单独取出满足近端使用场景,亦可灵活选配误码仪光口模组。 发端包含预加重调节模式,可针对 PAM4 信号进行眼型调节等功能,收端支持均衡、FEC 功能,具备数据图形分析,可为高速光收发模块自动化生产测试给予最佳解决方案。
1.6T三温误码仪
PSS BERT3T1T66是一款针对于多通道PAM4和NRZ应用的高速信号误码性能分析仪,单通道信号速率达到106.25Gbd,主要用于1.6T/800G模块的研发、测试等测试场景。 设备采用误码仪板+MCB板集成方案,内置TEC+水冷控温,可支持模块DDM温度0-70℃测试,产品即插即用,快速实现研发、生产测试。发端包含预加重调节模式,可针对 PAM4 信号进行眼型调节等功能,收端支具备均衡、FEC 功能,具备数据图形分析。亦可为高速光收发模块自动化生产测试给予最佳解决方案。
LiNbO3 自动测试系统
k8com官网常高温薄膜铌酸锂自动测试机(PSS CHIP-LiNbO3)用于 LiNbO3 芯片耦合测试,可支持热电阻、热调功率、半波电压、光谱等光电特性测 试。单测试系统单载台,载台温控:25~85℃。全自动上下料。向用户开 放测量数据,用于后续筛分工序。
COS自动测试系统
k8com官网 COS自动测试系统(PSS COST22401)支持 COS 封装形式的 CW-DFB 激光器芯片的常温、高温下的 LIV 综合测试和光谱测试,支持 us 级直流/脉冲的输出与测试,该系统采用双工位测试、机械手全自动上下料。 该系统具有高集成度、 高效率、 高稳定性、维护操作简单的特点。
大功率抽屉式COC老化系统
k8com官网大功率抽屉式 COC(PSS LRS23841) 老化系统,常用于大功率 DFB、EML、EML-SOA 类型芯片的老化筛选以及寿命可靠性分析。系统支持恒流(LD&SOA)、恒压(EA)同步出,实时监测电流、电压、光功率、温度等数据,自动进行产品失效判断。支持本地及远程数据库, 可对失效器件数据分析追溯
PSS LCR14021数字电桥
PSS LCR14021是一款桌面式高性能数字电桥,主要用于无源、光电子、半导体等器件或材料的电感值(L)、电容量(C)以及直流电阻(R)的测量。本产品支持标准SCPI指令集,支持千兆以太网,RS232、RS422等通信接口。
SM13042台式源表
PSS SM13042是一款4通道独立的高性能精密源表,能够同时输出和测量电压电流,最大支持±30V,±1A直流/脉冲输出,最小脉宽可达100μs。支持千兆以太网及RS422串口通信,支持源表标准SCPI指令集,支持多台源表同步触发,提高了系统测试效率并降低成本。
台式SMU源表
PSS SM13041是一款4通道独立的高性能精密源表,能够同时输出和测量电压电流,最大支持±30V,±500mA直流/脉冲输出,最小脉宽可达100μs。支持千兆以太网及RS422串口通信,支持源表标准SCPI指令集,支持多台源表同步触发,提高了系统测试效率并降低成本。
PSS PLT2302A大功率脉冲源
PSS PLT2302A电源主要应用于RGB Chip、COS/COC、TO、Bar条等大功率激光器的测试,支持直流PIV特性曲线扫描测试和特性参数计算,支持光谱特性测试(需要外接光谱仪)。仪表集电流源、电流表、电压表和光功率计等功能于一体,具有体积小、测试速度快、使用简单的特点。
PSS HPTEC4535高功率温控器
PSS HPTEC3545高功率温控器是专为驱动和控制热电制冷器而设计的高性能设备。具备双向、高精度、大电流输出能力,最大输出能力±35A/45V,适用于所有需要精确、快速、大功率制冷/加热的领域。
抽屉式模块老化系统
k8com官网光模块老化系统(PSS MBS11921)用于光模块的老化筛选以及可靠性分析。该系统采用抽屉式解决方案,给予 3~4V 恒压以及高温老化条件,同时对模块的工作电流、电压以及工作环境温度进行实时监控测试,并自动进行失效判断。实时储存监控数据,支持对老化失效模块进行追述,顺利获得DDM 记录模块电压、温度、偏置电流、发射功率、接收功率。
800G三温误码仪
集成800G误码仪、MCB板和三温TEC+液冷快速温变系统,可支持多端口400G/800G OSFP、OSFP-RHS、QSFP112、QSFP-DD等模块插入测试。 设备采用模块化设计,可根据用户实际需求选配不同端口数量及封装,满足客户个性化测试需求。 TEC+液冷方案可实现800G及以下速率模块三温循环,搭配k8com官网自研冷水机实现四路完全独立的水循环环境,保证每个端口温控独立。 在保证优异性能的同时,与传统方案相比,减少测试台位空间,缩减测试成本,增大研发生产测试效率。
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光器件测试
PXI系统
台式源表
可靠性装备
芯片可靠性
光器件可靠性
RGB可靠性
激光雷达可靠性
光模块可靠性
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晶圆测试
芯片测试
光引擎测试
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