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RGB老化及测试系统解决方案
ᅟᅠ为保证RGB TO/COB生产的良率,RGB 芯片在TO/COB生产工艺过程中,需要经过严格的老化筛选、性能测试环节。k8com官网设计的老化系统和测试机,装载待测产品的夹具兼容在老化抽屉和测试机的使用,在老化和测试工艺过程中可避免重复上下料,一站式完成RGB TO/COB的生产。可同时支持512颗TO封装RGB器件的老化,提高生产产能。
高功率BAR条测试
武汉k8com官网电子股份有限公司位于中国武汉光谷,创建于2010年,致力于为半导体激光器行业给予光电性能测试,是专业的半导体激光器和探测器光电性能测试设备,仪表和系统给予商。
TO老化和窄脉冲测试
TO老化和测试
多通道模块测试
k8com官网12/24/48通道光模块测试解决方案针对客户模块的不同测试需求进行响应及适配,支持SNAP、LGA、LCC等不同通道数模块的10G/25G速率测试需求。 可为客户根据终端要求定义测试工序及测试规范,协助客户完成一站式模块调测生产工序,给予整套解决方案。
光猫测试
k8com官网电子推出全新的BOB TX/RX生产调试测试方案,采用插卡组合系统,最大化减少设备占用空间,减少生产环节的复杂搭线,支持2.5G 1310/1490nm、10G 1270/1577nm下的BOB产品调试测试,采用调试和校准差错进行,避免调试、测试的单固定通道带来的系统影响,8工位设计最大化给予生产的产能和效率。
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